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          《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機)綜合》標準

          時(shí)間:2023-03-28 00:00:00 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

          《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機)綜合》是中國國家標準,主要規定了電工電子產(chǎn)品在低氣壓、高溫、低溫、振動(dòng)等環(huán)境下進(jìn)行綜合試驗的方法。

          該標準適用于電工電子產(chǎn)品和元器件、工業(yè)產(chǎn)品和汽車(chē)、航空航天和船舶等行業(yè)的產(chǎn)品和設備,主要用于評估產(chǎn)品的可靠性和適應性,在產(chǎn)品設計、生產(chǎn)和使用等方面具有重要的指導意義。


          一、范圍:
          GB/T2423的本部分規定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/報動(dòng)(隨機)綜合試驗的基本耍求、嚴酷等級,試驗程序以及其他技術(shù)細則。
          本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(dòng)(隨機)綜合作用下的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。


          二、試驗設備:
          四綜合壓試驗箱

          《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABMFh:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(dòng)(隨機)綜合》標準(圖1)


          該標準主要包括以下內容:

          1. 試驗目的:通過(guò)模擬環(huán)境中的低氣壓、高溫、低溫和振動(dòng)條件,評估產(chǎn)品的可靠性和適應性,為產(chǎn)品設計、生產(chǎn)和使用提供依據。

          2. 試驗裝置:包括試驗室、試驗設備和測量?jì)x器等。試驗室應符合相關(guān)標準,試驗設備應符合產(chǎn)品規格要求,測量?jì)x器應準確可靠。

          3. 試驗條件:試驗條件包括試驗溫度、濕度、氣壓和振動(dòng)等。試驗溫度、濕度、氣壓和振動(dòng)應符合產(chǎn)品規格要求和試驗要求。

          4. 試驗方法:包括試驗前的準備工作、試驗過(guò)程中的控制要求和試驗結束后的處理方法等。其中,振動(dòng)試驗采用隨機振動(dòng)方式進(jìn)行。

          5. 試驗過(guò)程中的注意事項:包括試驗前的檢查、試驗中的安全措施、試驗中的異常處理和試驗結束后的處理等。

          6. 試驗結果評定:對試驗結果進(jìn)行評定和分析,判斷產(chǎn)品是否符合規格要求,為產(chǎn)品的設計和改進(jìn)提供依據。


          總之,該標準規定了在低氣壓、高溫、低溫、振動(dòng)等環(huán)境下進(jìn)行綜合試驗的方法,為評估產(chǎn)品的可靠性和適應性提供了指導。


          標簽: 試驗標準 檢測標準

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