《GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗》標準

《GB/T 12085.5-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗》是中國國家標準，屬于《GB/T 12085 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法》系列標準的第5部分。

該標準規定了光學(xué)和光學(xué)儀器在低溫、低氣壓環(huán)境下的綜合試驗方法，包括試驗裝置的要求、試驗條件、試驗步驟、試驗過(guò)程中應注意的事項、試驗結果的評定方法等內容。

一、范圍：
本部分規定了低溫與低氣壓綜合試驗的試驗條件、條件試驗﹑試驗程序及環(huán)境試驗標記。
本部分適用于在高山地區或飛機儀表盤(pán)上或導彈上使用的光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
本試驗目的是研究試樣的光學(xué)，熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度，包括測定水的冷凝和凍結對儀器或零部件的附加影響。

二、試驗設備：
高低溫低氣壓試驗箱

三、部分試驗條件：
1. 試驗箱(室)必須是空氣流通的低氣壓或是高空模擬試驗箱(室)，它可以是低溫、低氣壓的綜合試驗箱(室)，也可將低氣壓箱放在低溫室中。試驗箱(室)的大小及試樣安放的位置，應能保證所有試樣都處于均勻的環(huán)境條件下。

2. 在試驗箱(室)內，試樣需先達到規定的試驗溫度，然后再把箱內壓力降到有關(guān)標準的規定值。

3. 按條件試驗方法51(見(jiàn)4.2)進(jìn)行試驗時(shí)，在升壓期間，可用高純氮氣或對試樣輻射加熱方法，避免試樣上產(chǎn)生結霜和凝露。

在低溫、低氣壓綜合試驗中，試驗裝置應能夠提供符合要求的低溫和低氣壓環(huán)境，同時(shí)保證試驗過(guò)程的可控性和穩定性。試驗條件包括試驗溫度、氣壓、試驗時(shí)間等參數。

該標準適用于各種光學(xué)和光學(xué)儀器的環(huán)境試驗，可用于產(chǎn)品研發(fā)、設計驗證、生產(chǎn)檢驗等環(huán)節，也可用于產(chǎn)品質(zhì)量評定和認證等方面。