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          《GB/T2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗方法》標準

          時(shí)間:2023-03-29 09:31:01 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

          GB/T2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗方法》是用于電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗的標準規范,包括了測試目的、試驗裝置、試驗方法、試驗程序、試驗要求等內容。

          具體來(lái)說(shuō),該標準規定了低氣壓試驗所需的試驗設備,包括低氣壓試驗箱、真空泵、氣壓計等,并對試驗條件進(jìn)行了明確,如試驗溫度、相對濕度和氣壓等參數。


          一、范圍:
          本標準規定了電工電子產(chǎn)品低氣壓試驗方法的嚴酷等級、預處理、初始測量、條件試驗、恢復和最后測量。
          本標準適用于室溫條件下的低氣壓試驗。主要用來(lái)確定元件、設備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運輸或使用的適應性。
          注:對于貯存、運輸或使用條件下的產(chǎn)品,當高蠢和低氣壓或低溫和低氣壓綜合影響施于產(chǎn)品上的應力或在此應力作用下的失效機理是十分重要時(shí),則應按下列標準進(jìn)行試驗:GB 2423.25以及GB 2423.26。


          二、試驗設備:
          低氣壓試驗箱

          《GB/T2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗M:低氣壓試驗方法》標準(圖1)


          三、試驗要求:

          1. 試驗箱(室)溫度應在規定的試驗標準大氣條件溫度范圍內,對非工作性試驗、試驗樣品應是在不包裝、不通電、“準備使用”狀態(tài),按其正常位置(除非另有規定)放入試驗箱(室)內。


          2. 將試驗箱(室)內的氣壓降低到符合規定嚴酷等級的值,壓力變化速度為不大于10kPa/min,或按有關(guān)標準的規定。


          3. 進(jìn)行工作性試驗時(shí),試驗樣品應通電或加電氣負荷,應檢查確定試驗樣品是否能滿(mǎn)足有關(guān)標準規定的功能,試驗樣品可按規定的持續時(shí)間保持在運行狀態(tài),或是按有關(guān)標準中的要求斷開(kāi)電源。

          若有關(guān)標準要求中間測量時(shí),則應進(jìn)行中間測量。

          在試驗方法方面,該標準規定了試驗過(guò)程和試驗要求,如試驗時(shí)間、試驗后的樣品狀態(tài)評定和試驗結果的處理等。

          對散熱試驗樣品,有關(guān)規范可要求對試驗樣品通電,并在降低氣壓以前或以后,使其有足夠的時(shí)間達到穩定,及進(jìn)行功能試驗和(或)測量。


          4. 氣壓應按規定的持續時(shí)間予以保持。


          5.使氣壓恢復到常態(tài),若有關(guān)標準有要求時(shí),氣壓變化的速度應不超過(guò)10 kPa/min。


          標簽: 檢測標準 測試標準

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