《GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 規程試驗KA鹽霧試驗方法》標準

GB/T 2423.17-2008是中華人民共和國國家標準，標準名稱(chēng)為“電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗 規程試驗KA鹽霧試驗方法”。該標準規定了電工電子產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境下的試驗方法和評定標準，以檢測產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的耐受性能。

該標準適用于各種電工電子產(chǎn)品的KA鹽霧試驗。試驗時(shí)，將樣品放置在鹽霧試驗箱中，在規定的試驗時(shí)間內，通過(guò)噴霧方式模擬海洋環(huán)境中的鹽霧腐蝕，檢測樣品的耐受性能。試驗時(shí)還要對試驗箱進(jìn)行溫度、濕度、壓力等環(huán)境參數的控制和記錄。

一、范圍：
本試驗適用于比較具有相似結構的試樣的抗鹽霧腐蝕的能力。本試驗也適用于評定保護性涂層的質(zhì)量以及均勻性。
使用時(shí)，應考慮以下的限制:
a）本試驗不適合作為通潤的鹽霧腐蝕試驗;
b) 本試驗也不適用于在含鹽大氣中使用的單個(gè)試樣的評定。
對于設備以及零部件，低驗Kb提供了更符合實(shí)際情況的試驗條件以及單個(gè)試樣的評定方法。但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規范要求個(gè)別試樣采用本試驗方法時(shí)試樣應當作為整個(gè)組件或者設備的組成部分連同實(shí)際的保護性設備(箱體、蓋子、外套等)一起進(jìn)行試驗。

二、試驗設備：
鹽霧試驗機

三、試驗要求（部分）：
1. 根據相關(guān)規范，試樣應按正常使用狀態(tài)進(jìn)行試驗。因此，試樣應分為多個(gè)批次，每個(gè)批次按照一種使用狀態(tài)進(jìn)行試驗。
試樣之間不應有接觸，也不能與其他金屬部件接觸，因此試樣應安放好以消除部件之間的影響。注:試樣在試驗箱內的位置(即試樣表面跟豎直平面的傾斜角)非常重要，位置上非常小的差別可能會(huì )導致結果差別比較大，取決于試樣的形狀。

2. 試驗箱的溫度應維持在(35±2)℃。

3. 所有的暴露區域都應維持鹽霧條件，用面積為80 c㎡的器皿在暴露區域的任何一點(diǎn)連續收集至少16 h的霧化沉積溶液，平均每小時(shí)收集量應在1.0 mL~2.0 mL之間。至少應采用兩個(gè)收集器皿，器皿放置的位置不應受試樣的遮擋，以避免收集到試樣上凝結的溶液，器皿內的溶液可用于測試pH值和濃度。

通過(guò)按照該標準的要求進(jìn)行KA鹽霧試驗，可以檢測電工電子產(chǎn)品在海洋環(huán)境下的耐腐蝕性能，評估產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，提高產(chǎn)品的抗腐蝕性能和使用壽命，為產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)和應用提供技術(shù)支持。