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          《GB/T 12085.16-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗》標準

          時(shí)間:2023-04-11 09:36:24 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

          GB/T 12085.16-2010是關(guān)于光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法的標準,其中第16部分規定了彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗的方法。

          該試驗方法旨在模擬光學(xué)和光學(xué)儀器在運輸和使用過(guò)程中遭受的沖擊、振動(dòng)、高溫、低溫等環(huán)境條件,以評估其耐久性和可靠性。試驗中使用的彈跳或恒加速度試驗模擬產(chǎn)品在運輸中的振動(dòng)和跌落,而高溫和低溫試驗模擬產(chǎn)品在極端溫度條件下的使用和儲存。


          一、范圍:
          本部分規定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。
          本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
          本試驗目的是研究試樣的光學(xué),熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫﹑低溫影響時(shí)的變化程度。


          二、試驗設備:
          穩態(tài)加速度離心機(點(diǎn)擊查看)

          《GB/T 12085.16-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗》標準(圖1)


          三、試驗要求(部分):

          1. 在綜合作用力條件下對暴露的試樣進(jìn)行的測試,要比任一種單一環(huán)境條件試驗更為嚴酷。表中規定的溫度值選自GB/T 12085.2,條件試驗方法10和11。
          2. 試驗應符合GB/T 12085.3的要求。
          3. 固定試樣的裝置應符合GB/T 2423.43的要求,試樣夾具應隔熱。
          4. 若試樣裝在減震器上,則應考慮減震器元件恒溫的時(shí)間。
          5. 儀器用于抗彈跳(條件試驗方法57和58)的試驗是在帶運輸包裝或貯存或運輸情況下進(jìn)行。


          在試驗過(guò)程中,通過(guò)控制試驗設備的振動(dòng)或加速度、溫度和濕度等因素,模擬光學(xué)和光學(xué)儀器在實(shí)際使用和運輸過(guò)程中遇到的環(huán)境條件。通過(guò)對試驗后的產(chǎn)品進(jìn)行外觀(guān)和性能的檢測和評估,來(lái)確定其是否符合相關(guān)的技術(shù)標準和要求。

          GB/T 12085.16-2010標準詳細規定了試驗設備、試驗條件、試驗方法、試驗過(guò)程、試驗后的檢測和評估等方面的要求,以確保試驗結果的準確性和可靠性。


          標簽: 檢測標準 試驗標準

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