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          《GB 7423.1-1987 半導體器件散熱器通用技術(shù)條件》標準

          時(shí)間:2023-05-29 09:02:44 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

          GB 7423.1-1987是中國的國家標準,具體名稱(chēng)為《半導體器件散熱器通用技術(shù)條件》。

          該標準主要針對半導體器件散熱器的設計、制造和使用,旨在確保散熱器的質(zhì)量、性能和可靠性符合規范要求。


          一、范圍:
          本標準規定了半導體器件散熱器的型號編制方法、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規則及包裝、標志、運輸和貯存。
          本標準適用于電子設備用半導體器件(以下簡(jiǎn)稱(chēng)器件)散熱器。


          二、試驗項目:
          耐熱試驗、潮濕試驗等。


          三、試驗設備:
          恒溫恒濕試驗箱等。

          《GB 7423.1-1987 半導體器件散熱器通用技術(shù)條件》標準(圖1)


          四、設備廠(chǎng)商:
          環(huán)儀儀器


          五、試驗方法(部分):

          散熱器的潮濕試驗,應按GB 2423.3-81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程試驗C a:恒定濕熱試驗方法》和下列規定進(jìn)行:
          a.將合適的器件裝于散熱器上,并放入試驗箱內﹔
          b.初始檢查按4.2、4.4條規定進(jìn)行;
          c.試驗條件﹑相對濕度為93±3%,溫度為40 ± 2 ℃﹔
          d.試驗時(shí)間惇存放96h ;
          e.試驗后的檢查將散熱器從試驗箱中取出,在室溫下經(jīng)4 h的干燥后,按3.12條的要求用目測法進(jìn)行檢查。當有絕緣要求時(shí),應按4.6條的規定,檢測絕緣電阻值。


          通過(guò)遵循GB 7423.1-1987標準,半導體器件散熱器的制造商和用戶(hù)可以對散熱器的質(zhì)量和性能進(jìn)行評估和驗證,以確保其在實(shí)際使用中具有穩定的性能和可靠的散熱效果。該標準對于推動(dòng)半導體器件散熱器產(chǎn)品的標準化和互操作性,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性具有重要意義。


          標簽: 檢測標準

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