《DB 44/T 2009-2017 移動(dòng)終端電容式觸摸屏通用技術(shù)規范》標準

一、范圍：
本標準規定了移動(dòng)終端電容式觸摸屏的術(shù)語(yǔ)和定義、要求、試驗方法、檢驗規則、標志、標簽、包裝、運輸和貯存。
本標準適用于以玻璃或膜材為主要基材，經(jīng)黃光印刷或激光雕刻等工藝制成的各類(lèi)結構的電容式觸摸屏（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“觸摸屏”或“TP”(Touch Pannel) ) 。

二、試驗項目：
冷熱沖擊試驗、高溫高濕試驗、高低溫試驗等。

三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱等。

四、設備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器

五、試驗方法（部分）：

1. 冷熱沖擊
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在冷熱沖擊試驗箱中，交替溫度分別設置為-40℃±3℃和8O℃±2℃，各停留30分鐘，為一次循環(huán)，設定溫度變化率＞25℃/分鐘，高低溫轉換時(shí)間在5分鐘以?xún)?，連續循環(huán)10次，取出產(chǎn)品，在室溫(20℃~25℃)下恢復2小時(shí)后進(jìn)行外觀(guān)結構和性能檢測。

2. 低溫儲存
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在低溫試驗箱中，溫度設置為-40℃±3℃，存放24小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復2小時(shí)后進(jìn)行外觀(guān)結構和性能檢測。

3. 高溫儲存
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在高溫試驗箱中，溫度設置為8O℃±2℃，存放24小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復2小時(shí)后進(jìn)行外觀(guān)結構和性能檢測。

4. 高溫高濕儲存
將不包裝不通電的樣品放在高溫高濕試驗箱中，溫度設置為60℃±2℃，濕度設置為90%RH±3%RH，存放48小時(shí)，取出產(chǎn)品，在常溫下恢復2小時(shí)后進(jìn)行外觀(guān)結構和性能檢測。