《GB/T 4937.11-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法》標準

《GB/T 4937.11-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第11部分：快速溫度變化 雙液槽法》是中國國家標準化委員會(huì )發(fā)布的標準，用于半導體器件的機械和氣候試驗。該標準主要描述了使用雙液槽法進(jìn)行快速溫度變化試驗的方法和要求。

一、范圍：
GB/T 4937的本部分規定了快速溫度變化--雙液槽法的試驗方法。當器件鑒定既可以采用空氣-空氣溫度循環(huán)又可以采用快速溫度變化--雙液槽法試驗時(shí)，優(yōu)先采用空氣-空氣溫度循環(huán)試驗。
本試驗也可采用少量循環(huán)(5次~10次)的方式來(lái)模擬清洗器件的加熱液體對器件的影響。
本試驗適用于所有的半導體器件。除非在有關(guān)規范中另有說(shuō)明，本試驗被認為是破壞性的。
本試驗與GB/T 2423.22-2002基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。

二、試驗項目：
雙液槽快速溫度變化試驗。

三、試驗設備：
液槽式冷熱沖擊試驗箱。

四、設備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

樣品應放于液槽中的合適位置，使液體在樣品中間及周?chē)牧鲃?dòng)不受到阻礙。然后根據表1的規定，使負載按試驗條件C或其他規定的試驗條件進(jìn)行15次循環(huán)(對于模擬清洗應進(jìn)行10次循環(huán))。為了進(jìn)行器件批的加載或去載，或由于電源或設備故障，允許中斷試驗。

然而，對任何給定的試驗，若中斷次數超過(guò)規定循環(huán)總次數的10%，試驗應重新開(kāi)始。

根據該標準的要求，試驗時(shí)將半導體器件置于兩個(gè)溫度控制液槽中，通過(guò)控制液槽中的溫度快速變化來(lái)模擬實(shí)際使用中的溫度變化情況。通過(guò)對器件的性能和可靠性進(jìn)行觀(guān)察和評估，可以判斷其在溫度變化環(huán)境下的適應能力和穩定性。