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          《HG/T 4357-2012 薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)用偏光片》標準

          時(shí)間:2024-05-13 08:47:46 作者:環(huán)儀儀器 點(diǎn)擊:次

          HG/T 4357-2012 薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)用偏光片,主要關(guān)注薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)中使用的偏光片,偏光片在液晶顯示器中起著(zhù)關(guān)鍵的作用,能夠控制光的偏振方向,確保圖像的正確顯示。因此,制定和執行這個(gè)標準對于確保TFT-LCD的質(zhì)量和性能至關(guān)重要。


          一、范圍:

          本標準規定了薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,簡(jiǎn)稱(chēng)TFT-LCD)用偏光片的術(shù)語(yǔ)和定義,產(chǎn)品分類(lèi),要求,試驗方法,檢驗規則,標簽、標識、包裝,運輸和貯存以及其他注意事項。

          本標準適用于薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)用偏光片。


          二、試驗項目及設備及設備及設備:

          高低溫試驗、高低溫循耐久性試驗、濕熱耐久試驗、加濕剝離試驗可用:恒溫恒濕試驗箱

          紫外環(huán)境耐久試驗可用:紫外老化試驗箱

          等試驗項目。


          三、推薦廠(chǎng)家:

          環(huán)儀儀器

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          四、(部分)試驗過(guò)程:


          紫外環(huán)境耐久性

          按6.7.4處理樣品。在試驗開(kāi)始之前,按6.5先測試樣品的各光學(xué)性能指標,包括偏振度、透過(guò)率和色相。

          將樣品置于老化架上,然后連同老化架放入紫外光老化試驗箱中。條件設置為25 ℃,500 W紫外照射環(huán)境中50 h老化。在試驗過(guò)程中,每隔24 h或視需要而改變時(shí)間,觀(guān)察樣品表觀(guān)質(zhì)量的變化,看其是否發(fā)生色變、PVA回縮等現象,并隨時(shí)記錄觀(guān)察結果。

          試驗結束后,將樣品取出,測試樣品的光學(xué)性能指標。


          總結:

          這個(gè)標準由深圳市盛波光電科技有限公司和中國樂(lè )凱膠片集團公司共同起草,主要的起草人包括邱韶華、鐘偉宏、陳敏、錢(qián)琨、林漢唐、黃紹惇等。使用或生產(chǎn)薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)用偏光片的企業(yè)和個(gè)人,應當嚴格遵守相關(guān)標準,確保產(chǎn)品的質(zhì)量和安全。


          標簽: 測試標準

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