GB/T2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗，用于這種試驗方法的設備我們通常稱(chēng)之為恒溫恒濕試驗箱，此標準適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設備在高濕度的條件下使用、貯存和運輸時(shí)的適應性，規定了試驗的嚴酷等級，如高溫度、高濕度和持續時(shí)間等，適用于散熱和非散熱樣品，適用于小型設備及元件，同時(shí)也適用于與試驗箱外的測試裝置有復雜聯(lián)接的大型設備，這種連接需要一定的裝配時(shí)間，在安裝期間，可以不用預熱或維持特定的試驗條件。
我們上述所描述的高溫高濕試驗，根據環(huán)儀儀器儀器多年生產(chǎn)銷(xiāo)售的經(jīng)驗來(lái)說(shuō)，高溫高濕試驗的溫濕度范圍為雙85試驗、雙95試驗(即指溫度和濕度都是85、85%和95、95%)，這種設備在定貨時(shí)需特殊說(shuō)明一下，需要開(kāi)具壓力平衡孔及其它部分的調整。
接下來(lái)回來(lái)的恒溫恒濕試驗箱的標準簡(jiǎn)述上，標準中文件的條款通過(guò)本部分的引用而成為本部分的條款，凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本，GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 一：總則，GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫試驗。
在本試驗中，將樣品置于同為試驗室溫試驗的試驗箱內，試驗箱內的條件應符合標準第5章所規定的嚴酷等級并持續至規定時(shí)間，由于散熱樣品的影響，可能引起試驗箱內的溫度和濕度條件與規定的試驗條件不同，則這兩個(gè)參數的測量應按自由空氣條件的測量方法進(jìn)行測量。
