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          電子電器元件模擬高原氣候試驗室的試驗條件

          時(shí)間:2023-02-25 10:11:45 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:次

          模擬高原氣候試驗室對電子電器元件的低氣壓試驗,用于確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿的能力;確定密封元件耐受氣壓差不破壞的能力;檢驗低氣壓對元件工作特性的影響及低氣壓下的其他效應;有時(shí)候可以用于確定機電元件的耐久性。


          一、試驗氣壓

          從下邊A~E中選取滿(mǎn)足自己產(chǎn)的測試條件。

          電子電器元件模擬高原氣候試驗室的試驗條件(圖1)


          二、試驗時(shí)間

          若無(wú)其他規定,試驗樣品在低氣壓條件下的試驗時(shí)間,可從下列數值中選取:5min、30min、1h、2h、4h和 16h。


          電子電器元件模擬高原氣候試驗室的試驗條件(圖2)


          三、對模擬高原氣候試驗室有要求

          1.試驗箱(室)應有觀(guān)察窗和接線(xiàn)柱,以便觀(guān)察和測量電性能。

          2.試驗箱應有氣壓指示器,以便測量箱內的氣壓。

          3.應注意避免試驗箱的輔助裝置,如泵的工作液蒸氣及試驗箱附件(閥、絕緣物)釋放的蒸氣產(chǎn)生污染。氣壓恢復正常時(shí),應注意避免空氣帶入灰塵或水汽污染試驗樣品。



          四、參數選擇

          電子電器元件模擬高原氣候試驗室的試驗條件(圖3)


          如需獲取模擬高原氣候試驗室技術(shù)方案,可以官咨詢(xún)“環(huán)儀儀器”相關(guān)技術(shù)人員。

          標簽: 模擬高原氣候試驗室

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