IC晶片高低交變濕熱試驗箱

環(huán)儀儀器新一代IC晶片高低交變濕熱試驗箱 ，集人性化設計理念于一身，從客戶(hù)的實(shí)際需求出發(fā)，在每一細節上盡力滿(mǎn)足客戶(hù)要求，為客戶(hù)提供高品質(zhì)的恒溫恒濕系列產(chǎn)品。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

IC晶片高低交變濕熱試驗箱是一種專(zhuān)門(mén)用于對集成電路（IC）晶片進(jìn)行高低溫和濕熱環(huán)境測試的設備。它能夠模擬高溫、低溫和濕熱環(huán)境下的應力，評估IC晶片的性能和可靠性。

滿(mǎn)足標準：

GB/T 4937.42-2023 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分：溫濕度貯存

IEC 60749-42:2014

技術(shù)參數：

溫度范圍： B：-20℃~100℃（150℃）、C：-40℃~100℃（150℃）、D：-70℃~100℃（150℃）

濕度范圍： 20% RH~98% RH

控制穩定度： 溫度±0.5℃、濕度±2.0%

分布均勻度： 溫度±2.0℃、濕度±3.0%

升溫速率： 3℃/min(由-40℃升至30℃約25分鐘)非線(xiàn)性空載

降溫速率： 1℃/min(由30℃降至-40℃約70分鐘)非線(xiàn)性空載

溫度極限： 最高溫度 150℃，最低溫度-70℃

產(chǎn)品特點(diǎn)：

人性化設計
全新無(wú)氟設計，使你始終走在健康生活的前面。
多段可編程PID控制器，采用TMHM平衡式調溫調濕方法，控溫控濕精確波動(dòng)小。
采用進(jìn)口304鏡面不銹鋼內膽，四角半圓弧過(guò)渡，擱板支架可以自由裝卸，便于箱內的清洗工作。

環(huán)儀儀器IC晶片高低交變濕熱試驗箱使用的材料在高濕條件下不能發(fā)生退化。試驗箱在設計時(shí)，采用特色設計，可以有效避免凝結于箱體頂部的水汽滴落到器件上。