《GB/T 12085.22-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動(dòng)綜合試驗》是中國國家標準，屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標準規定了在實(shí)驗室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設備的綜合環(huán)境試驗方法，涵蓋了低溫、高溫、溫度變化、碰撞和隨機振動(dòng)等多個(gè)環(huán)境因素的綜合試驗。
一、范圍：
本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫，高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動(dòng)綜合試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來(lái)自其他領(lǐng)域的組件(如機械、化學(xué)和電子設備)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動(dòng)綜合試驗。
二、試驗項目：
溫度、振動(dòng)綜合試驗。
三、試驗設備：
綜合試驗箱。
四、設備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器
五、試驗程序（部分）：
若進(jìn)行溫度變化測試,則所需要的暴露時(shí)間從溫度變化開(kāi)始時(shí)啟動(dòng)。試樣和試驗箱(室)溫度應相同。
光學(xué)和光子學(xué)儀器試驗應采用半正弦脈沖。試樣應沿每個(gè)軸向每一方向經(jīng)受1 000次沖擊，或確定具體的沖擊次數。
隨機振動(dòng)用數字控制的方式進(jìn)行。加速度功率譜密度應采用按GB/T 2423.56的振動(dòng)控制系統進(jìn)行控制。
其他參數如低溫或高溫﹑溫度變化，隨機振動(dòng)類(lèi)型、溫度暴露時(shí)間，振動(dòng)暴露時(shí)間，沖擊次數.沖擊重復頻率、沖擊或振動(dòng)軸、運行狀態(tài)等，應在相關(guān)規范中規定。
綜合環(huán)境試驗是為了模擬光學(xué)和光子學(xué)設備在實(shí)際使用中可能遇到的復雜環(huán)境條件，包括溫度變化、碰撞和振動(dòng)等。這些試驗有助于評估設備在這些條件下的性能和可靠性，以確保其在實(shí)際應用中能夠正常工作。這對于需要在惡劣環(huán)境條件下使用的光學(xué)和光子學(xué)設備非常重要，如衛星通信設備、激光測量?jì)x器、航天器載荷等。通過(guò)進(jìn)行綜合環(huán)境試驗，可以確定設備的耐受性，以減少在實(shí)際使用中的故障風(fēng)險。
