《GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱》標準

《GB/T 12085.2-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱》是中國國家標準，屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標準規定了在實(shí)驗室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設備的環(huán)境試驗，特別是針對低溫、高溫和濕熱等環(huán)境條件的試驗方法。

一、范圍：
本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫、高溫、濕熱試驗的環(huán)境試驗方法。

本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器包括來(lái)自其他領(lǐng)域附屬組件(如機械、化學(xué)和電子設備)的低溫、高溫與濕熱試驗。

二、試驗項目：
高低溫試驗、濕熱試驗、凝露試驗、溫度漸變試驗、溫度特變試驗。

三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、快速溫度變化試驗箱。

四、設備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

試樣的各個(gè)部分溫度都應達到與試驗箱(室)的溫度相差小于3K以?xún)乳_(kāi)始試驗。對散熱試樣,在溫度穩定的試驗箱(室)內試樣的溫度變化每小時(shí)不超過(guò)1K時(shí)作為暴露周期或停留時(shí)間的開(kāi)始(或終止)(條件試驗方法14或15)。試樣的溫度達到穩定的最后1 h應作為暴露周期的最初l h。

該標準的主要目的是評估光學(xué)和光子學(xué)設備在低溫、高溫和濕熱等特殊環(huán)境條件下的性能和可靠性。這些條件可能會(huì )對一些設備產(chǎn)生不利影響，如導致零件脆化、材料老化、電子元件故障等。通過(guò)進(jìn)行這些環(huán)境試驗，可以確定設備在這些條件下的抗性，以確保其在實(shí)際應用中能夠正常工作。這對于需要在極端氣溫條件下使用的光學(xué)和光子學(xué)設備非常重要，如衛星通信設備、激光器、紅外傳感器等。