對于 LED 光源的可靠性失效分析，一般采用加大應力 (如高溫應力和濕度應力等) 的方法對樣品進(jìn)行加速老化 ，這樣可在短時(shí)間內得到樣品失效信息并對其可靠性進(jìn)行分析。下面，我們以高溫應力和濕度應力作為常見(jiàn)的老化條件，為大家講解LED光源在高溫高濕條件下的失效原理。
LED高溫高濕失效應力分析：
試驗設備：環(huán)儀儀器 LED光源溫濕度應力試驗箱
試驗標準：JESD 22-A101C、IEC60068-2-30等
試驗方式：
LED在溫濕度下的工作壽命試驗是利用恒定的溫度、濕度和電流對進(jìn)行加速老化，根據試驗結果得出在此溫濕度下的工作壽命。
① 高溫高濕工作壽命(WHTOL): 評估 LED 封裝在工作期間因溫度和濕度引起的應力下的性能。使用高溫、高濕度的方法，加速環(huán)境水汽透過(guò)外部保護材料或沿著(zhù)外部保護材料和連接它的金屬導體之間的界面滲透到器件內部，可能導致可靠性降低。
WITOL是LED 電子元器件中最常見(jiàn)也最重要的評估試驗。最常見(jiàn)的高溫高濕條件為雙 85，即溫度為 85℃，濕度為85% RH。LED 封裝應根據 JESD 22-A101C 進(jìn)行試驗:每項試驗應至少使用3個(gè)不同批次的78 個(gè) LED 封裝每批次為 26個(gè)。在最大額定工作電流下通電，1h開(kāi)，1 h 關(guān)為一個(gè)循環(huán)，循環(huán)持續 1 000 h，試驗溫度為 85 ℃、相對濕度為 85%。
②濕熱循環(huán)(DHC): 評估 LED 封裝在溫度和濕度循環(huán)引起的應力下的性能，LED封裝應根據 IEC60068-2-30 進(jìn)行試驗。
如有LED光源的濕熱試驗疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
