隨著(zhù)LED芯片功率的不斷增加和LED模塊尺寸的不斷減小，LED模塊在發(fā)光過(guò)程中的產(chǎn)熱量越來(lái)越多，如果不及時(shí)消散，會(huì )嚴重影響LED模塊的壽命和可靠性，因此，LED模塊的環(huán)境適應性試驗已成為出廠(chǎng)前的一項重要檢測。下面，為大家講解一下LED模塊10K/min速率測試方法。
LED模塊10K/min速率試驗方法：
試驗設備：環(huán)儀儀器 LED模塊快速溫度變化箱
試驗標準：GB/T 24823-2024 普通照明用LED模塊 性能規范
試驗概述：
設置的試驗箱中，施加對應于測試電壓的標稱(chēng)電流。保證模塊在40℃±10 ℃的試驗箱中達到熱穩定以后，試驗箱溫度為溫度循環(huán)測試的最高環(huán)境溫度，最低環(huán)境溫度為該溫度減50℃。這兩個(gè)溫度用于溫度循環(huán)試驗。整個(gè)試驗循環(huán)250次。
試驗過(guò)程：
a).當LED模塊工作于最高環(huán)境溫度中達到穩定時(shí)，關(guān)閉LED模塊，并將試驗箱內環(huán)境溫度以10K/min的速率降到最低測試溫度;
b).將關(guān)閉狀態(tài)的 LED模塊在最低環(huán)境溫度下保持50min，然后在最低環(huán)境溫度下對LED模塊進(jìn)行10個(gè)循環(huán)的10s開(kāi)/50s關(guān)的開(kāi)關(guān)試驗;
c).給模塊通電;
d).以10K/min的速率將試驗箱內溫度升高到試驗箱最高環(huán)境溫度;
e).將通電狀態(tài)的LED模塊在最高環(huán)境溫度下保持50min，然后在最高環(huán)境溫度下對 LED 模塊進(jìn)行10個(gè)循環(huán)的10s開(kāi)/50s關(guān)的開(kāi)關(guān)試驗;
d).重復步驟a)~e)249次
合格性:
試驗結束后,在不少于15min的時(shí)間段內，所有LED模塊可以正常工作且光通量維持在所明示光通維持率代碼范圍內，同時(shí)沒(méi)有溫度循環(huán)所造成的比如開(kāi)裂或標志剝離等物理影響。
如有試驗疑問(wèn)，可以咨詢(xún)環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
