《GB/T 4937.12-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動(dòng)》標準

《GB/T 4937.12-2018 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第12部分：掃頻振動(dòng)》是中國國家標準化委員會(huì )發(fā)布的標準，用于評估半導體器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性和性能穩定性。該標準規定了掃頻振動(dòng)試驗的方法和要求。

一、范圍：
GB/T4937的本部分的目的是測定在規定頻率范圍內，振動(dòng)對器件的影響。本試驗是破壞性試驗，通常用于有空腔的器件。
本試驗與GB/T 2423.10-2008基本一致，但鑒于半導體器件的特殊要求，采用本部分的條款。

二、試驗項目：
振動(dòng)試驗。

三、試驗設備：
振動(dòng)試驗臺。

四、設備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

樣品應剛性地安裝在振動(dòng)臺上，引出端和電纜也應安全固定，以避免引入額外的引線(xiàn)共振。應使樣品做簡(jiǎn)諧振動(dòng)，其振幅兩倍幅值為1.5 mm(峰-峰值)，或其峰值加速度為200 m/s2 ，取較小者。振動(dòng)頻率在20 Hz~2 000 Hz范圍內近似對數變化。從20 Hz~2 000 Hz再回到20 Hz的整個(gè)頻率范圍的振動(dòng)時(shí)間不應少于4 min。在X、Y和Z3個(gè)方向上各進(jìn)行4次這樣的循環(huán)(共12次)。

在掃頻振動(dòng)試驗中，半導體器件將在特定的振動(dòng)頻率和振動(dòng)幅度下進(jìn)行振動(dòng)，以模擬實(shí)際應用環(huán)境中的振動(dòng)情況。通過(guò)該試驗，可以評估器件在振動(dòng)環(huán)境下的機械強度、焊接可靠性、封裝可靠性等性能指標。

《GB/T 4937.12-2018》標準規定了試驗裝置、試驗樣品的選擇和準備、試驗條件、試驗過(guò)程和評定方法等方面的要求。通過(guò)該標準進(jìn)行的掃頻振動(dòng)試驗可以幫助制造商和使用者了解半導體器件在振動(dòng)環(huán)境下的可靠性表現，指導產(chǎn)品設計和改進(jìn)工藝。