《GB/T 35086-2018 MEMS電場(chǎng)傳感器通用技術(shù)條件》標準

GB/T 35086-2018 是中國國家標準，標題為《MEMS電場(chǎng)傳感器通用技術(shù)條件》（Micro-electromechanical systems (MEMS) - General technical specifications for MEMS electric field sensors）。

該標準規定了MEMS電場(chǎng)傳感器的通用技術(shù)要求，旨在指導和規范這類(lèi)傳感器的設計、制造、測試和使用，以確保其性能、可靠性和適用性。

一、范圍：
本標準規定了MEMS電場(chǎng)傳感器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“傳感器”)的原材料、結構組成、技術(shù)要求、試驗項目和方法、檢驗規則、包裝、存儲和運輸。

本標準適用于MEMS電場(chǎng)傳感器的研制、生產(chǎn)和采購。其他類(lèi)型的電場(chǎng)傳感器可參照使用。

二、試驗項目：
高低溫試驗、溫度沖擊試驗、濕熱試驗、沖擊試驗、振動(dòng)試驗等。

三、試驗設備：
恒溫恒濕試驗箱、溫度沖擊試驗箱、沖擊試驗臺、振動(dòng)試驗臺等。

四、設備廠(chǎng)商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

1.高溫貯存
試驗
按GB/T 2423.2-2008中 5.2規定的試驗方法和如下規定進(jìn)行試驗:
a）溫度:貯存溫度的上限溫度±2℃;

b)保溫時(shí)間:48 h。
試驗后，在試驗的標準大氣條件下恢復2 h，然后檢查傳感器外觀(guān)，檢測零點(diǎn)輸出。

2.低溫貯存
試驗
按GB/T 2423.1-2008中 5.2規定的試驗方法和如下規定進(jìn)行試驗:
a)溫度:貯存溫度的下限溫度±2℃;

b)保溫時(shí)間:24 h。
試驗后，在試驗的標準大氣條件下恢復2 h，然后檢查傳感器外觀(guān)，檢測零點(diǎn)輸出。

3.溫度沖擊
試驗
按GB/T 2423.22-2012規定的試驗方法和如下規定進(jìn)行試驗:
a)試驗程序:按照GB/T 2423.22-012的第7章;

b)溫度:高溫為貯存溫度的上限溫度±2℃，低溫為貯存溫度的下限溫度±2℃;

c)保溫時(shí)間:應確保傳感器達到溫度穩定(保溫時(shí)間通?？蓞⒖紓鞲衅鞯臒崛萘坑捎脩?hù)和供應商
協(xié)商確定);

d)轉換時(shí)間:不大于3 min;
e)沖擊次數:3次。

試驗后﹐在試驗的標準大氣條件下恢復2 h，然后檢查傳感器外觀(guān)，檢測零點(diǎn)輸出。

通過(guò)遵循 GB/T 35086-2018 標準，MEMS電場(chǎng)傳感器的制造商和用戶(hù)可以更好地了解和應用這類(lèi)傳感器，從而確保其在電場(chǎng)測量等應用中的性能和可靠性得到保障。